Giving Shape to Ideas

search form

Specyfikacja

Urządzenia pomiarowe

CM-3220d

Główna specyfikacja CM-3220d

Rodzaj oświetlenia i pomiaruPomiar światła odbitego, geometria d:8° z jednoczesnym pomiarem SCI (di:8°, składowa lustrzana włączona) oraz SCE (de:8°, składowa lustrzana wyłączona)
Zgodność z normami kolorymetrycznymi: CIE, ISO, ASTME, DIN i JIS
Średnica sfery oświetlającejØ 52 mm
Detektor widmaPodwójna 40-elementowa matryca fotodiod krzemowych
Element rozszczepiającySiatka dyfrakcyjna
Zakres widma, rozdzielczość360-740 nm, 10 nm
Rozdzielczość fizyczna (szerokość połówkowa)Około 10 nm
Zakres reflektancji0-200%, rozdzielczość 0.01%
Źródło światła2 impulsowe lampy ksenonowe
Średnica pomiaru / oświetleniaØ 8 mm / Ø 11 mm
PowtarzalnośćReflektancja spektralna: odchylenie standardowe maks. 0.1% (360 do 380 nm w przedziale 0.2%)
Kolorymetria: odchylenie standardowe maks. ΔE*ab 0.04
Warunki pomiaru: biała płytka kalibracyjna zmierzona 30 razy w odstępach 10 s., po przeprowadzeniu kalibracji bieli
Zgodność pomiędzy egzemplarzamiŚrednia ΔE*ab 0,2 (na podstawie pomiaru 12 wzorcowych płytek koloru BCRA Serii II)
Wymiary (szer. x wys. x gł.)232 x 115 x 181 mm
Waga4 kg

Wymagania techniczne i systemowe oparte są na najnowszych informacjach dostępnych w momencie publikowania i mogą ulec zmianie bez uprzedzenia.
Wszystkie nazwy firm lub ich produktów stanowią własność ich odpowiednich właścicieli.

Do góry

© 2012 Konica Minolta