Rozwiązanie dla maksymalnej dokładności i rozdzielczości pomiaru połysku w trudnych zastosowaniach.
Tak jak znane instrumenty Rhopoint IQ, modele FLEX mierzą jakość odbitego obrazu i profil goniofotometryczny odbicia światła od powierzchni próbki.
Standardowe połyskomierze mierzą tylko ilość odbitego światła i nie są wrażliwe na efekty optyczne dramatycznie wpływające na postrzeganą jakość wyglądu powierzchni.
Rhopoint IQ FLEX 20-S przenosi technologię goniofotometryczną w nowy wymiar – umożliwia pomiar małych oraz wypukłych elementów. Niewielkie pole pomiarowe sensora tego instrumentu umożliwia efektywną kontrolę próbek trudnych lub niemożliwych do pomiaru konwencjonalnym połyskomierzem.
Pomiary połysku i jakości wyglądu dokonane instrumentami IQ FLEX są w pełni kompatybilne z wynikami uzyskanymi przy użyciu dotychczasowych modeli Rhopoint IQ.
Dla jeszcze lepszej dokładności i powtarzalności nawet na najmniejszych i wypukłych próbkach, Rhopoint IQ FLEX 20-S może zostać wyposażony w wymienne, magnetycznie mocowane końcówki pomiarowe.
Dzięki technologii druku 3D, na podstawie projektów CAD twoich konkretnych części, można stworzyć dla nich końcówki pomiarowe o indywidualnie dopasowanym kształcie. Dla ochrony delikatnych powierzchni przed porysowaniem, końcówki pomiarowe mogą być wykończone gumą, filcem lub plastikiem.
Mniejsze przysłony pomiarowe (4 i 2mm) dla małych elementów i zakrzywionych powierzchni
Powtarzalna kontrola jakości małych części, przycisków i pokręteł
Możliwość bezkontaktowego pomiaru na linii produkcyjnej
Konica Minolta Sensing Europe B.V. jest autoryzowanym dystrybutorem firmy Rhopoint Instruments Ltd.
POLE POMIARU
SPECYFIKACJA POMIARU POŁYSKU
RSPEC
SPECYFIKACJA POMIARU ZMĘTNIENIA
SPECYFIKACJA POMIARU DOI
SPECYFIKACJA POMIARU GONIOFOTOMETRYCZNEGO
Kolorowy ekran z funkcją automatycznego obracania
Podświetlany wyświetlacz o wysokiej rozdzielczości Regulowana jasność Panel sterowania z sześcioma przyciskami dotykowymi
Konstrukcja
Konstrukcja całkowicie aluminiowa – obudowa, optyka, podstawka ze wzorcem
Analiza graficzna
Wbudowane wyświetlanie trendu Dla wartości połysku i jakości odbitego obrazu
Lepsza wydajność w trudnych aplikacjach z połyskiem